xulm膜厚仪博曼膜厚测试仪高分辨硅-pin-，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。 二元合金层：例如fe上的snpb，znni和nip合金。 三元合金层：例如ni上的aucdcu合金。 双镀层：例如au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。 双镀层，其中一个镀层为合金层：例如cr/nicu/plastic；fe。 镀层测厚仪、银层测厚仪、膜厚测量仪我公司是美国bowman博曼总代理商，专业销售：镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,x射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,x射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品rohs检测仪；公司有多名经验丰富的销售、服务工程师，是博曼（bowman）仪器在大陆指定委托的代理商，长期以来得到博曼（bowman）厂家及广大客户的好评。